90111000007 立體顯微鏡
顯微鏡:放大觀察微小物體的儀器
稅率
- 第一欄(一般稅率)
- 0%
- 第二欄(FTA 優惠稅率)
- 0% (PA,GT,NI,SV,HN,NZ,SG,MH)
- 第三欄
- 5%
輸入 / 輸出規定
出口規定(日本)
- 関税法 第69條之2(禁止出口):毒品、兒童色情、侵害智慧財產權物品(仿冒/盜版)、不正競爭物品等一律禁止出口。(日本海關)
- 輸出貿易管理令 別表第1(清單規制/該非判定)(部分):感測器、量測/導航/光學儀器等部分規格品屬安全保障管制,須該非判定。(經濟產業省)
- 一般出口程序(関税法):一般貨物須辦理輸出申告並取得輸出許可;出口適用消費稅免稅(0%)。未列於上方管制者,通常正常申告即可。(日本海關(NACCS))
本欄依商品 HS 前 6 碼對應日本出口管制類別,僅供參考;軍民兩用品需經濟產業省「該非判定」,實際出口規定以日本官方公告為準。
輸入規定(台灣)
無
法規資訊僅供參考,實際輸出入規定以海關公告為準。
官方稅則預審案例(共 1 筆)
財政部關務署對下列申報貨品的官方稅則分類見解,可作為您歸列稅號的參考:
- 申報貨品::Contour GT-K 3D Optical Microscope(2014-11-04) 分類理由::本案貨品依檢附之型錄及功能用途說明,係非接觸式表面量測系統用之3D光學顯微鏡,具有不同的放大倍率(0.5-200倍),可在測量範圍內對樣品表面形狀、紋理表徵進行觀察或測量,屬立體光學顯微鏡之範疇,依據稅則解釋準則一及六規定及參據HS註解對稅則9011及9031節之詮釋,歸列貨品分類號列第9011.10.00.00-7號。 材質成分::組成結構: 1.偵測主機 2.偵測物平台 3.機台 功能用途::實驗室檢驗量測用 1.薄膜檢測:半導體晶片鍍膜鍍層厚度量測、太陽能:測量銀痕跡高度及寬度。 2.表面粗糙度驗證:醫療設備、微機電系統、機械加工。 發文文號 103BA0252
以上為歷史預先審核案例,實際稅則分類仍以海關核定為準。
主要進口來源國(民國 114)
- 德國 28.40 公噸 63.20%
- 中國大陸 14.99 公噸 33.36%
- 義大利 0.58 公噸 1.30%
- 日本 0.31 公噸 0.69%
- 新加坡 0.22 公噸 0.50%
同類稅則號列(相關 CCC Code)
延伸閱讀與工具
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