90314110200 供檢查半導體晶圓或裝置（包含積體電路）或供檢查製造半導體裝置（包含積體電路）所使用之光罩或網線之光學儀器及用具，以電氣操作者

IC：積體電路，電子晶片

稅率

第一欄（一般稅率）
0%
第二欄（FTA 優惠稅率）
0% (PA,GT,NI,SV,HN,NZ,SG,MH)
第三欄
0%

稽徵代號：Z

輸入 / 輸出規定

出口規定（日本）

  • 関税法 第69條之2（禁止出口）：毒品、兒童色情、侵害智慧財產權物品（仿冒/盜版）、不正競爭物品等一律禁止出口。（日本海關）
  • 輸出貿易管理令 別表第1（清單規制／該非判定）（部分）：感測器、量測/導航/光學儀器等部分規格品屬安全保障管制,須該非判定。（經濟產業省）
  • 一般出口程序（関税法）：一般貨物須辦理輸出申告並取得輸出許可；出口適用消費稅免稅（0%）。未列於上方管制者,通常正常申告即可。（日本海關（NACCS））

本欄依商品 HS 前 6 碼對應日本出口管制類別，僅供參考；軍民兩用品需經濟產業省「該非判定」，實際出口規定以日本官方公告為準。

輸入規定（台灣）

無

法規資訊僅供參考，實際輸出入規定以海關公告為準。

官方稅則預審案例（共 1 筆）

財政部關務署對下列申報貨品的官方稅則分類見解,可作為您歸列稅號的參考:

  • 申報貨品:：光罩缺陷檢測儀(Reticle Defect Inspection Platform)Teron600系列（2011-08-09） 分類理由:：本案貨品參據所檢附相關資料，為「光罩缺陷檢測儀」，包含固態雷射頭、雷射承載系統(LSS)、影像擷取系統(IAS)、光罩裝載系統(RLS)、電子與機構次系統(EFS)等組件，用以檢測光罩上之缺陷，宜歸列貨品分類號列第9031.41.10.20-0號。 材質成分:：光罩缺陷檢測儀包含固態雷射頭、雷射承載系統(LSS)、影像擷取系統(IAS)、光罩裝載系統(RLS)、電子與機構次系統(EFS)等等組件，其中固態雷射頭包含固態晶體、光學系統及電子電路系統。 功能用途:：KLA-Teron之光罩缺陷檢測儀600系列係用以檢測半導體製造中微影製程所使用之光罩上之缺陷，特別是用以檢測20幾奈米之邏輯電路元件及30幾奈米之半間距記憶體之製程上所使用光罩上之缺陷。KLA-Ttron之Tencor600系係使用尼康固態雷射NSI-193C為雷射頭。在操作上，雷射頭會發射波長193奈米之雷射波束以掃瞄光罩，據以檢測光罩上 發文文號 100CA0072

以上為歷史預先審核案例,實際稅則分類仍以海關核定為準。

主要進口來源國（民國 114）

  1. 新加坡 973.42 公噸 42.89%
  2. 美國 814.42 公噸 35.89%
  3. 以色列 276.63 公噸 12.19%
  4. 馬來西亞 66.62 公噸 2.94%
  5. 德國 61.72 公噸 2.72%

同類稅則號列（相關 CCC Code）

  • 90311000003 平衡機械零件用機器
  • 90312000001 測試台
  • 90314110102 附有專供半導體晶圓或網線上下料及傳送設備用之顯微照相顯微鏡
  • 90314190007 其他供檢查半導體晶圓或裝置（包含積體電路）或供檢查製造半導體裝置（包含積體電路）所使用之光罩或網線之光學儀器及用具
  • 90314910006 其他光學儀器及用具，以電氣操作者
  • 90314920004 定型投影機
  • 90314991008 其他供計量半導體晶圓表面微粒污染之光學儀器及用具
  • 90314999000 其他本章未列名之計量或檢查用光學儀器及用具
  • 90318000106 負荷傳應器
  • 90318000204 附有專供半導體晶圓或網線上下料及傳送設備用之電子束顯微鏡
  • 90318000302 其他本章未列名之計量或檢查用儀器、用具及機器，具低週波、高週波、超音波、超短波功能者
  • 90318000918 其他本章未列名之醫療用計量或檢查用儀器、用具及機器
  • 90318000990 其他本章未列名之非醫療用計量或檢查用儀器、用具及機器
  • 90319010004 供檢查半導體晶圓或裝置或供檢查製造半導體裝置所使用之光罩或網線之光學儀器及用具之零件及附件
  • 90319020002 供計量半導體晶圓表面微粒污染之光學儀器及用具之零件及附件
  • 90319090007 其他第９０３１節所屬物品之零件及附件

延伸閱讀與工具

  • 📂 第 90 章總覽
  • 台灣關稅查詢完整指南
  • CCC Code 是什麼？
  • 進口稅試算機
  • 稅則號列搜尋

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